現代の組み込みシステムが故障する原因は、単一のコンポーネントの不具合にあることはほとんどありません。その原因は、ソフトウェア、電子機器、通信、センサー、および物理システム間の相互作用が予期せぬ挙動を示すことにあります。HILは、製品が現場に導入される前に、こうした相互作用を明らかにするために存在します。
Avernaは、HILを単独の活動としてではなく、モデルベース開発、ソフトウェア・イン・ザ・ループ(SIL)、ハードウェア・イン・ザ・ループ(HIL)、システム統合、製造試験にまたがる、より広範な検証プロセスの一環として捉えています。 HILシミュレーションは、XIL(MIL、SIL、PILなど)のスペクトルにおいてハードウェア側の端に位置します。つまり、コントローラは静的な入力セットではなく、実稼働中のプラントモデル(場合によっては完全なデジタルツイン)に対して動作します。
「Averna Powered by Spherea」を利用すれば、HiL、リアルタイムシミュレーション、計測、RF、ビジョン、自動化、品質データを1つのバリデーションプログラムに統合することができます。これにより、現実的な動作条件下でシステム全体のバリデーションを行うことが可能となり、プロトタイプのコストを削減しつつ、開発を加速させることができます。
この統合的なアプローチは、ミッションクリティカルなアプリケーションや、次世代の組み込み製品およびコネクテッド製品向けに構築されています。AvernaのHiLソリューションは、以下の点でお客様を支援します:
- 再現性のある管理された試験を通じて、欠陥をより早期に発見する
- 物理的に再現することが困難な、まれなまたは危険な動作条件下における挙動を検証する
- 導入前に安全性と信頼性を確認する
- 不要なハードウェアや機器を削減する
- 自動化と再利用可能なテストアーキテクチャによるスケール検証
