現代の組み込みシステムが故障する原因は、単一のコンポーネントの不具合にあることはほとんどありません。その原因は、ソフトウェア、電子機器、通信、センサー、および物理システム間の相互作用が予期せぬ挙動を示すことにあります。HILは、製品が現場に導入される前に、こうした相互作用を明らかにするために存在します。
Avernaは、HILを単独の活動としてではなく、モデルベース開発、ソフトウェア・イン・ザ・ループ(SIL)、ハードウェア・イン・ザ・ループ(HIL)、システム統合、製造テストにまたがる、より広範な検証プロセスの一環として捉えています。 HILシミュレーションは、XIL(MIL、SIL、PILなど)のスペクトルにおいてハードウェア側の端に位置します。つまり、コントローラは静的な入力セットではなく、実稼働プラントモデル(場合によっては完全なデジタルツイン)に対して動作します。
「Averna Powered by Spherea」を利用すれば、HiL、リアルタイムシミュレーション、計測、RF、ビジョン、自動化、品質データを1つの検証プログラムに統合することが可能です。これにより、プロトタイプのコストを削減し、開発を加速させながら、現実的な動作条件下でシステム全体を検証することが可能になります。
この統合的なアプローチは、ミッションクリティカルなアプリケーションや、次世代の組み込み製品およびコネクテッド製品向けに構築されています。AvernaのHiLソリューションは、以下の点でお客様を支援します:
- 再現性のある制御されたテストを通じて、欠陥を早期に発見
- 物理的に再現が困難な、稀なまたは危険な動作条件下での挙動を検証
- 導入前に安全性と信頼性を実証
- 不要なハードウェアや機器を削減
- 自動化と再利用可能なテストアーキテクチャによる検証のスケールアップ

