ATEC Dyna Series®は、航空電子システムの生産試験向けに設計された、拡張性のある自動試験装置(ATE)ソリューションです。本システムは、生産ロット間のダウンタイムを最小限に抑えることが極めて重要な、ライン交換可能ユニット(LRU)のバッチ製造を支援するために特別に設計されています。このプラットフォームにより、メーカーは高いスループットと信頼性を維持しながら、複雑な電子機器を効率的に検証することができます。 本システムは、エンジン制御ユニットやPCBA(プリント基板アセンブリ)を含む、民間および軍用航空宇宙アプリケーションの両方をサポートします。高性能な計測機器とモジュール式アーキテクチャにより、進化する航空電子機器技術や生産要件に柔軟に対応可能です。
商品説明
主なメリット
生産バッチ間のダウンタイムを短縮し、全体的な効率を向上させる
長期的な生涯にわたる取り組み(20年以上)
充実したメンテナンスサービス
並列テスト機能による製造歩留まりの向上
リアルタイムのデバッグとトラブルシューティングにより、迅速な立ち上げを実現
複数のテストシステムを導入する場合に比べ、コストとNREが低減されます
将来の航空電子技術に対応できる拡張性の高いアーキテクチャ
故障検出および診断精度の向上
主な機能と詳細情報
- 単一のプラットフォーム上で複数のテストプログラムを処理します
- 異なるLRU間の効率的な切り替えを可能にする
- 複数のLRUの同時テストに対応しています
- 本番環境の処理能力を向上させます
- 同一または異なる製品バリエーションのテストが可能
- 混合生産環境に対応しています
- 高度な測定・試験機能を備えている
- 複雑で次世代の航空電子システムの試験に対応
- 高い精度と再現性を確保します
- エンジニアや技術者向けに設計されています
- テストシーケンスや設定の変更を容易にする
- 高度なシステム知識への依存を軽減する
- 導入と更新を迅速化します
- 初期生産段階から量産拡大段階に至るまで、進化し続ける航空電子機器技術を支援するよう設計されています
- 生産量の増加や複雑化に対応します
- 製造テスト戦略のための長期的な基盤を提供する
- 即座にデバッグを行い、問題を解決できます
- 迅速な再構成により、バッチ切り替え時のダウンタイムを短縮します
- システムの段階的な拡張やアップグレードに対応しています
- ライフサイクルの各段階でテスト戦略を再利用できるようにする
- エンジニアリングと生産テストを連携させる
- 長期的な試験の一貫性を向上させる
- テスト結果や生産指標の追跡に対応しています
- トレンドや潜在的な品質上の問題の特定に役立ちます
- 製造現場における、より的確な意思決定を可能にする
- ライフサイクルの各段階でのテスト計画の再利用
機能 / 対応機能
- シミュレーションと測定
ディスクリート、アナログ、RTD(PT100/500/1000)、ひずみゲージ、RVDTエンコーダ、LVDTエンコーダ、加速度計、バルブ、タコメーター、ポテンショメータ、ピンプログ、近接センサー、ディスクリート
- 通信バス
- A429、A664、1553、CAN、RS232/485/422、イーサネット
- 電源
直流および交流
- 多数
直流および交流の高出力/低出力
- 切替システム
低電力、高電力、高速、マトリックス、分配器
