高精度MEMS测试解决方案

Averna 如何开展 MEMS 测试

无需等待量产。无论MEMS项目在哪个环节需要测试支持——无论是对首个原型进行特性分析，还是为生产线配备测试设备——Averna都能及时提供支持。 

1. 第一阶段

   制定测试策略

   工程师将每项设备功能与其所需的激励信号和测量参数进行映射，然后与设计团队共同设定合格/不合格的限值。
2. 第二阶段

   在研发中的表征

   半自动探针测试和谐振特性分析可在量产前对新设计进行验证，并将结果反馈给工程部门。
3. 第03阶段

   晶圆探针屏

   细间距探针测试能在封装前筛除有缺陷的芯片，因此封装成本仅用于合格的部件。
4. 第04阶段

   在最终测试中进行验证

   Averna 的自动化测试解决方案在受控温度下施加物理刺激，并根据测试结果对每个封装好的器件进行分拣。
5. 第05阶段

   合并测试数据

   每个阶段的结果都会汇入单一数据流，以供追溯和产量分析之用。