现代嵌入式系统的故障,极少是由单一元器件缺陷引起的,更多是源于软件、电子硬件、通信链路、传感器与物理系统之间复杂的交互行为在特定条件下出现意料之外的响应。硬件在环(HIL)测试的价值,恰恰在于产品交付现场之前,提前将这些潜在的交互风险暴露并解决。
Averna并不将HIL视为一项独立的活动,而是将其视为一个更广泛的验证连续体的一部分,该连续体涵盖基于模型的开发、软件在环(SIL)、硬件在环(HIL)、系统集成以及制造测试。 HIL仿真位于XIL(MIL、SIL、PIL等)谱系的硬件端:控制器基于实时工艺模型(有时是完整的数字孪生)运行,而非基于一组静态输入。
Averna Powered by Spherea使您能够将 HiL、实时仿真、仪器仪表、射频、视觉、自动化和质量数据整合到一个验证计划中。这使得完整系统能够在真实运行条件下进行验证,同时降低原型成本并加速开发进程。
该集成方案专为关键任务应用以及新一代嵌入式和联网产品而设计。Averna的HiL解决方案可帮助您:
- 通过可重复、受控的测试更早地发现缺陷
- 在难以通过物理方式再现的罕见或危险运行条件下验证系统行为
- 在部署前验证其安全性和可靠性
- 减少不必要的硬件和设备
- 通过自动化和可重用测试架构实现规模验证
