贯穿整个生命周期的定制化方案
Averna将电子产品测试视为贯穿整个产品生命周期的统一学科。一个测试方案即可在生产速度下完成元器件特性分析及最终产品放行,且所有测试结果均可追溯至中央系统。
Averna如何开展电子产品测试
Averna将电子产品测试视为一项全生命周期计划。每个项目都遵循既定的工程路径,确保测试覆盖率和吞吐量与产品保持一致,并使系统在部署后很长一段时间内仍可维护。
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第一阶段
定义需求和可测试性设计
Averna将与您的工程团队通力合作,制定一套全面的验证策略,并明确各类缺陷可能出现的环节。在早期阶段应用“可测试性设计”(DfT)的最佳实践,可确保测试访问点和测试覆盖率在产品设计阶段就已融入其中,而非事后才作为补充添加。 -
第二阶段
选择或构建测试平台
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第03阶段
以完全可追溯的方式执行
测试序列以生产速度自动运行。每个结果都会被记录下来并与MES关联(或根据项目规模本地存储),因此生产线持续运转的同时,每件产品都附有可验证的记录。 -
第04阶段
分析与维持
良率与失效数据将反馈到设计和工艺决策中。Averna还会在系统整个使用寿命期间提供支持,包括当其仪器或产品组件即将淘汰时。
面向电子驱动型市场的广泛应用
电子测试服务适用于任何需要先验证产品性能才能出货的行业。Averna 将该服务应用于以下市场:
讨论您的测试需求
请告诉我们您生产的产品,Averna的测试工程师将根据您的产品和生产线制定相应的系统方案。
技术能力
我们的电子产品测试能力涵盖三个集成层次。
集成级别
- 组件
- 半导体测试:晶圆分选、封装测试、老化测试以及I-V/C-V特性分析
- 电路板(PCBA)
- 在线测试(ICT)、飞针测试、边界扫描(JTAG)、自动光学检测(AOI)和X射线检测(AXI)
在电力电子、储能系统(ESS测试)和电动汽车充电设备(EVSE)领域,Averna通过PLUTON系列®新增了再生电源和负载仿真功能,支持电力硬件在环(PHIL)验证。
电子元器件的停产管理
电子产品的寿命往往长于其所搭载的元器件。主动式的监测能够提前预判元器件短缺风险,在供应链问题爆发之前即制定好替代方案。当某款零件或板卡停产后,可通过PCB克隆与战略性工程设计方案进行再造,无需全面重新设计即可补充维修备件库存。
自动化 PCBA 测试
观看此视频,亲眼见证我们在自动化PCBA测试领域的领先专业技术。无论您需要全自动还是半自动解决方案,我们都能为您量身定制下一个测试项目。我们的系统将帮助您在预算范围内,以最短的时间实现最高的产品质量。