Giải pháp kiểm tra và đo lường bán dẫn tự động

Đáp ứng nhu cầu ngày càng tăng của một ngành công nghiệp đang phát triển nhanh chóng

Các thiết bị ngày nay phải hoạt động trong điều kiện giới hạn nhiệt ngày càng khắt khe hơn, kích thước nhỏ gọn hơn và thời gian chu kỳ nhanh hơn, đồng thời vẫn phải đáp ứng được các yêu cầu của các ứng dụng thế hệ mới, như xe tự lái hay trí tuệ nhân tạo (AI) tại biên. Các hệ thống kiểm tra không còn chỉ đơn thuần xác nhận chức năng. Chúng phải thực hiện đo lường gần đến giới hạn về thời gian và theo kịp những thay đổi trong các vật liệu như SiC, GaN và MEMS.

Những khía cạnh khiến việc kiểm tra bán dẫn trở nên phức tạp hơn

Ngành công nghiệp bán dẫn đòi hỏi các môi trường kiểm tra đa lĩnh vực. Xử lý điện và cơ khí, kiểm tra quang học, xác minh giao thức, tất cả giờ đây đều tương tác trong cùng một quy trình. Những thách thức phát sinh từ:

Duy trì độ chính xác dưới micron trong xử lý tấm wafer đồng thời mở rộng năng suất
Ghi lại hành vi điện hoặc quang học nhất thời dưới áp lực môi trường
Tạo phạm vi kiểm tra cho MEMS, ASIC hoặc các mô-đun đa chip bằng mô phỏng kích thích
Đáp ứng các yêu cầu SEMI S2/S8/S22 đồng thời tối ưu hóa khả năng tương thích với phòng sạch

Những thách thức này đòi hỏi các hệ thống được thiết kế riêng biệt cùng chuyên môn chuyên sâu trong từng lĩnh vực. Chỉ thông qua việc hợp tác với một đối tác kỹ thuật am hiểu ngôn ngữ của các nhà máy sản xuất hiện đại, bạn mới có thể đạt được điều này.

Chuyên môn kỹ thuật của Averna trong các ứng dụng bán dẫn

Averna cung cấp các hệ thống kiểm thử mô-đun và tự động được thiết kế riêng cho sản xuất bán dẫn. Các nền tảng của chúng tôi hỗ trợ các quy trình quan trọng như phân loại ở cấp độ tấm wafer, kiểm thử gói sản phẩm, thử nghiệm burn-in, đặc tính hóa I-V và C-V, cũng như xác thực chức năng trong hệ thống.

Chúng tôi thiết kế các môi trường thử nghiệm có khả năng mô phỏng các điều kiện thực tế, cho phép thực hiện các thử nghiệm có thể theo dõi và lặp lại trên nhiều kích thước wafer và ngưỡng hoạt động khác nhau. Dù mục tiêu là đẩy nhanh thời gian đưa sản phẩm ra thị trường hay đảm bảo tích hợp không lỗi, các hệ thống của chúng tôi đều đáp ứng các yêu cầu của các nhà máy sản xuất bán dẫn hiện đại cũng như các cơ quan quản lý.

Những khả năng này là vô cùng quan trọng trong các ngành công nghiệp như ô tô, hàng không vũ trụ, điện tử tiêu dùng, thiết bị y tế, tự động hóa công nghiệp và viễn thông, nơi độ tin cậy của chip và tích hợp hệ thống là những yếu tố không thể thỏa hiệp.

Các lĩnh vực chuyên môn chính

Kiểm tra ở cấp độ wafer và die, với các môi trường chạy thử tích hợp và các công cụ kiểm tra điện quang
Đánh giá đặc tính MEMS, bao gồm chuyển động, áp suất, âm thanh, ánh sáng, độ ẩm và từ tính, kết hợp với các kích thích vật lý
Tạo độ bao phủ kiểm thử cho các thiết bị MEMS, ASIC hoặc mô-đun đa chip thông qua mô phỏng kích thích
Kiểm thử toàn chu trình cho IC, ASIC và SoC, kèm theo phân tích tham số trong điều kiện biến đổi nhiệt độ
Kiểm tra bằng hình ảnh tích hợp, từ các mối hàn trên bảng mạch in (PCBA) đến các tiêu chuẩn chất lượng trong lắp ráp vi mô
Xác nhận rủi ro và tiêu chuẩn, bao gồm tài liệu SEMI S2/S8/S22 và sự sẵn sàng đáp ứng các yêu cầu CE/IEC
Các trạm kiểm tra cuối cùng, được tối ưu hóa cho các linh kiện tương tự, tín hiệu hỗn hợp và kỹ thuật số tốc độ cao

Nền tảng xử lý tấm wafer EFEM

Nền tảng xử lý tấm wafer tự động siêu sạch với các tùy chọn giao diện FOUP/SMIF, tính năng căn chỉnh tấm wafer chính xác và tích hợp robot liền mạch.

Xem phần mềm của chúng tôi

UniLine – Thiết bị kiểm tra trong dây chuyền đa năng dành cho các bảng mạch in (PCBA)

Uniline dành cho kiểm thử chức năng hỗn hợp và kiểm thử cuối vòng đời (EOL)

Trạm thử nghiệm có khả năng mở rộng, đáp ứng đầy đủ các yêu cầu về thử nghiệm điện, CNTT-TT, an toàn và chức năng với mức độ tự động hóa hoàn toàn, lý tưởng cho các mô-đun ASIC và các cụm lắp ráp PCBA.

Xem hệ thống

hệ thống khám sức khỏe mới - được tối ưu hóa

Nền tảng lắp ráp và kiểm tra căn chỉnh chủ động

Hãy tìm hiểu cách nền tảng đã được khẳng định trong ngành của chúng tôi có thể đẩy nhanh tiến độ sản xuất và nâng cao chất lượng sản phẩm. Đây là giải pháp lý tưởng dành cho các nhà sản xuất đang tìm kiếm dịch vụ lắp ráp chính xác, có thể lặp lại trên quy mô lớn.

Xem hệ thống

hệ-thống-kiểm-thử-tự-động-averna-300x300

Hệ thống kiểm tra bằng hình ảnh

Các hệ thống quang học được tối ưu hóa cho việc phát hiện khuyết tật ở mức micromet, kiểm tra mối hàn, xác nhận chất hàn dạng kem và phân loại sản phẩm thành phẩm.

Tìm hiểu về những gì chúng tôi làm

Hợp tác với Averna để đẩy nhanh lộ trình kiểm thử của bạn

Từ điện thoại thông minh và thiết bị đeo được đến ô tô và máy bay – hãy trao đổi với các chuyên gia về thử nghiệm và chất lượng của chúng tôi về các giải pháp thử nghiệm MEMS, đặc tính hóa sản phẩm và xác nhận chất lượng.

Liên hệ với chúng tôi

Trang bìa - Averna giải quyết vấn đề lệch vị trí trong in mạch in (PCB)

Để nâng cao độ chính xác trong quá trình in bảng mạch in hai mặt (PCB), Averna đã phát triển một hệ thống đo lường dựa trên công nghệ thị giác, được thiết kế để phát hiện và điều chỉnh độ lệch giữa mặt trước và mặt sau ngay từ giai đoạn đầu của quy trình sản xuất. Giải pháp này kết hợp hệ thống quang học có độ chính xác cao với phân tích dữ liệu thời gian thực nhằm giảm thiểu phế phẩm và ổn định chất lượng in.

Cấu trúc camera kép (cố định + di động) cho phép đo lường chính xác độ thẳng hàng của bảng mạch in (PCB) ở cả hai mặt
Hệ thống quang học độ phân giải cao với các thấu kính đã được hiệu chuẩn, đảm bảo độ chính xác đo lường nhất quán và có thể lặp lại, không phụ thuộc vào độ dày của bảng mạch
Môi trường LabVIEW tích hợp cung cấp khả năng truy xuất nguồn gốc, phân tích lỗi và phát hiện lỗi sớm

Cách tiếp cận này giúp phát hiện lỗi ở giai đoạn sớm hơn trong quy trình, từ đó nâng cao hiệu suất sản xuất đồng thời giảm thiểu phế phẩm và các bất cập trong sản xuất.

Tối đa 3 µm Độ chính xác (X/Y)

100% Độ chính xác của phép đo

Đọc toàn bộ nghiên cứu điển hình Trao đổi với chuyên gia