Giải pháp đo lường và kiểm tra chất bán dẫn tự động

Đáp ứng nhu cầu ngày càng tăng của một ngành công nghiệp đang phát triển nhanh chóng

Các thiết bị hiện nay phải hoạt động trong giới hạn nhiệt chặt chẽ hơn, kích thước nhỏ gọn hơn và chu kỳ nhanh hơn, đồng thời vẫn đáp ứng yêu cầu của các ứng dụng thế hệ mới, như tự lái trong ô tô hoặc AI tại biên (edge AI). Hệ thống kiểm tra không còn chỉ đơn giản xác nhận chức năng nữa; chúng phải đo lường gần giới hạn về thời gian và theo kịp những thay đổi trong vật liệu như SiC, GaN và MEMS.

Nơi kiểm tra chất bán dẫn trở nên phức tạp hơn

Ngành công nghiệp bán dẫn yêu cầu các môi trường kiểm tra đa miền. Việc xử lý điện và cơ khí, kiểm tra quang học, xác minh giao thức, tất cả hiện nay tương tác trong cùng một quy trình. Các thách thức phát sinh từ:

Duy trì căn chỉnh dưới micron trong quá trình xử lý wafer đồng thời tăng sản lượng
Ghi lại các hiện tượng điện hoặc quang tạm thời dưới tác động của môi trường
Tạo phạm vi kiểm thử cho MEMS, ASIC hoặc các module đa chip bằng mô phỏng kích thích
Đáp ứng các yêu cầu SEMI S2/S8/S22 đồng thời tối ưu hóa khả năng tương thích phòng sạch

Những thách thức này đòi hỏi các hệ thống được tùy chỉnh và chuyên môn theo từng miền. Chỉ bằng cách hợp tác với một đối tác kỹ thuật hiểu ngôn ngữ của các nhà máy hiện đại, bạn mới có thể đạt được điều này.

Chuyên môn kỹ thuật của Averna trong các ứng dụng bán dẫn

Averna cung cấp các hệ thống kiểm tra mô-đun và tự động được tùy chỉnh cho sản xuất bán dẫn. Các nền tảng của chúng tôi hỗ trợ các quy trình quan trọng như phân loại ở mức wafer, kiểm thử package, burn-in, đặc trưng I-V và C-V, cũng như kiểm chứng chức năng trong hệ thống.

Chúng tôi thiết kế các môi trường kiểm tra có khả năng mô phỏng điều kiện thực tế, cho phép kiểm tra có thể truy xuất và lặp lại trên nhiều kích thước wafer và ngưỡng hoạt động khác nhau. Dù mục tiêu là rút ngắn thời gian ra thị trường hay đảm bảo tích hợp không lỗi, các hệ thống của chúng tôi đáp ứng yêu cầu của các nhà máy hiện đại cũng như các cơ quan quản lý

Những khả năng này có vai trò thiết yếu trong các ngành công nghiệp như ô tô, hàng không vũ trụ, điện tử tiêu dùng, thiết bị y tế, tự động hóa công nghiệp và viễn thông, nơi độ tin cậy của chip và khả năng tích hợp hệ thống là những yếu tố không thể thỏa hiệp.

Lĩnh vực chuyên môn chính

Kiểm thử ở mức wafer và die, kết hợp với môi trường burn-in tích hợp và công cụ kiểm tra điện-quang
Đặc tính MEMS, bao gồm chuyển động, áp suất, âm thanh, ánh sáng, độ ẩm và từ tính, với tích hợp kích thích vật lý
Tạo phạm vi kiểm thử cho MEMS, ASIC hoặc các module đa chip bằng mô phỏng kích thích
Kiểm chứng toàn bộ chu kỳ IC, ASIC và SoC, kèm theo phân tích tham số dưới các biến đổi nhiệt độ
Kiểm tra bằng hệ thống thị giác tích hợp, từ các mối hàn trên bảng mạch in (PCBA) đến các tiêu chuẩn chất lượng trong lắp ráp vi mô
Xác minh rủi ro và tiêu chuẩn, bao gồm tài liệu SEMI S2/S8/S22 và chuẩn bị cho CE/IEC
Trạm kiểm thử cuối cùng, được tối ưu hóa cho các linh kiện tương tự, tín hiệu hỗn hợp và số tốc độ cao

Nền tảng xử lý wafer EFEM

Nền tảng xử lý wafer tự động siêu sạch với các tùy chọn giao diện FOUP/SMIF, căn chỉnh wafer chính xác và tích hợp robot liền mạch.

Xem phần mềm của chúng tôi

Máy kiểm tra In-Line UniLine đa năng cho PCBA

Uniline cho kiểm tra chức năng hỗn hợp và EOL

Trạm thử nghiệm có khả năng mở rộng, hỗ trợ các bài kiểm tra về điện, CNTT, an toàn và chức năng với mức độ tự động hóa hoàn toàn, lý tưởng cho các mô-đun ASIC và các cụm mạch in (PCBA).

Khám phá hệ thống

Hệ thống khám sức khỏe mới - được tối ưu hóa

Nền tảng kiểm tra và lắp ráp căn chỉnh chủ động

Hãy tìm hiểu cách nền tảng đã được khẳng định trong ngành của chúng tôi có thể đẩy nhanh tiến độ sản xuất và nâng cao chất lượng sản phẩm. Đây là giải pháp lý tưởng cho các nhà sản xuất đang tìm kiếm dịch vụ lắp ráp chính xác, có thể lặp lại trên quy mô lớn.

Khám phá hệ thống

Hệ thống kiểm thử tự động Averna - 300x300

Hệ thống kiểm tra thị giác

Các hệ thống quang học được tối ưu hóa cho việc phát hiện khuyết tật ở cấp độ micromet, kiểm tra mối hàn, xác nhận chất hàn dạng bột và phân loại sản phẩm thành phẩm.

Tìm hiểu về những gì chúng tôi làm

Hợp tác với Averna để đẩy nhanh lộ trình kiểm thử của bạn

Từ điện thoại thông minh và thiết bị đeo đến ô tô và máy bay – hãy trao đổi với các chuyên gia thử nghiệm và chất lượng của chúng tôi về các giải pháp thử nghiệm MEMS, đặc tính sản phẩm và xác nhận.

Liên hệ với chúng tôi

Bìa - Averna giải quyết vấn đề lệch màu trong in mạch in

Để nâng cao độ chính xác trong quá trình in bảng mạch in hai mặt, Averna đã phát triển một hệ thống đo lường dựa trên công nghệ thị giác, được thiết kế để phát hiện và điều chỉnh độ lệch giữa mặt trước và mặt sau ngay từ giai đoạn đầu của quy trình sản xuất. Giải pháp này kết hợp hệ thống quang học có độ chính xác cao với phân tích dữ liệu thời gian thực nhằm giảm thiểu phế phẩm và ổn định chất lượng in.

Kiến trúc camera kép (cố định + di động) cho phép đo lường chính xác độ thẳng hàng của bảng mạch in (PCB) ở cả hai mặt
Hệ thống quang học độ phân giải cao với các thấu kính đã được hiệu chuẩn, đảm bảo độ chính xác đo lường ổn định và có thể lặp lại, không phụ thuộc vào độ dày của bảng mạch
Môi trường LabVIEW tích hợp cung cấp khả năng truy xuất nguồn gốc, phân tích lỗi và phát hiện lỗi sớm

Cách tiếp cận này giúp phát hiện lỗi ở giai đoạn sớm hơn trong quy trình, từ đó nâng cao năng suất đồng thời giảm thiểu phế phẩm và các bất cập trong sản xuất.

Tối đa 3 µm Độ chính xác (X/Y)

100% Độ chính xác của phép đo

Đọc toàn bộ nghiên cứu điển hình Trao đổi với chuyên gia