Một số lỗi không xuất hiện trong quá trình kiểm định tiêu chuẩn. Một số khác lại phát sinh trong giai đoạn sản xuất và chỉ được phát hiện sau khi triển khai, khi đó chi phí để điều tra và khắc phục các vấn đề về độ tin cậy sẽ cao hơn rất nhiều.
HALT và HASS được sử dụng để phát hiện những rủi ro này sớm hơn thông qua các điều kiện nhiệt độ, rung động và các điều kiện ứng suất có kiểm soát khác được đẩy nhanh, khiến các lỗi xuất hiện nhanh hơn so với khi sử dụng bình thường. Trong giai đoạn phát triển, các bài kiểm tra tuổi thọ đẩy nhanh (HALT) giúp xác định các điểm yếu và cơ chế gây lỗi chỉ với một số lượng nhỏ thiết bị trong thời gian kiểm tra ngắn. Trong sản xuất, các bài kiểm tra sàng lọc ứng suất gia tốc cao (Highly Accelerated Stress Screens) áp dụng các mức ứng suất được quản lý, được xác định từ HALT, để phát hiện các khuyết tật sản xuất tiềm ẩn mà không gây hư hỏng cho các thiết bị đạt tiêu chuẩn.
