Erfüllung der steigenden Anforderungen einer sich schnell entwickelnden Halbleiterindustrie
Heutige Geräte müssen unter engeren thermischen Bedingungen, kleineren Grundflächen und schnelleren Zykluszeiten funktionieren und gleichzeitig den Anforderungen von Anwendungen der nächsten Generation, wie z. B. autonomes Fahren oder Edge AI, entsprechen. Testsysteme können nicht mehr nur die Funktionalität bestätigen. Sie müssen nahe an den Grenzen der Zeitmessung messen und mit den Veränderungen bei Materialien wie SiC, GaN und MEMS Schritt halten.
Wo das Testen von Halbleitern immer komplexer wird
Die Halbleiterindustrie benötigt Testumgebungen, die mehrere Bereiche abdecken. Elektrische und mechanische Handhabung, optische Inspektion, Protokollüberprüfung - all das interagiert jetzt innerhalb desselben Ablaufs. Herausforderungen ergeben sich aus:
- Beibehaltung der Submikron-Ausrichtung bei der Handhabung von Wafern bei gleichzeitiger Erhöhung des Durchsatzes
- Erfassung des transienten elektrischen oder optischen Verhaltens unter Umweltbelastung
- Generierung von Testabdeckung für MEMS, ASICs oder Multi-Chip-Module mit Stimulus-Simulation
- Erfüllung der SEMI S2/S8/S22-Anforderungen bei gleichzeitiger Optimierung der Reinraumkompatibilität
Diese Herausforderungen erfordern maßgeschneiderte Systeme und domänenspezifisches Fachwissen. Das können Sie nur durch die Zusammenarbeit mit einem technischen Partner erreichen, der die Sprache der modernen Fabriken spricht.
Avernas technisches Fachwissen in Bezug auf Halbleiteranwendungen
Averna liefert modulare und automatisierte Testsysteme, die auf die Halbleiterproduktion zugeschnitten sind. Unsere Plattformen unterstützen kritische Prozesse wie die Sortierung auf Waferebene, Gehäusetests, Burn-in, I-V- und C-V-Charakterisierung sowie die Funktionsvalidierung im System.
Wir entwickeln Testumgebungen, die in der Lage sind, reale Bedingungen zu simulieren, und die rückverfolgbare, wiederholbare Tests für verschiedene Wafergrößen und Betriebsschwellen ermöglichen. Ganz gleich, ob das Ziel darin besteht, die Markteinführung zu beschleunigen oder eine fehlerfreie Integration zu gewährleisten, unsere Systeme erfüllen die Anforderungen moderner Produktionsstätten und Aufsichtsbehörden gleichermaßen.
Diese Fähigkeiten sind in Branchen wie der Automobilindustrie, Luft- und Raumfahrt, Unterhaltungselektronik, medizinische Geräte, Industrieautomation und Telekommunikation, wo die Zuverlässigkeit der Chips und die Systemintegration nicht verhandelbar sind.
Kernkompetenzen
Unsere Lösungen sind auf technische Präzision und Reinraumtauglichkeit abgestimmt und eignen sich für eine Vielzahl von Herausforderungen in der Halbleiterindustrie:
- Tests auf Wafer- und Die-Ebene mit integrierten Burn-in-Umgebungen und elektro-optischen Prüfgeräten
- Charakterisierung von MEMS, einschließlich Bewegung, Druck, Akustik, Licht, Feuchtigkeit und Magnetismus, mit Integration physikalischer Stimuli
- Generierung von Testabdeckung für MEMS, ASICs oder Multi-Chip-Module mit Stimulus-Simulation
- IC-, ASIC- und SoC-Vollzyklusverifizierung mit parametrischer Analyse unter Temperaturschwankungen
- Inline-Vision-Inspektion, von PCBA-Lötstellen bis zu Mikro-Baugruppen-Qualitätstoren
- Risiko- und Normenvalidierung, einschließlich SEMI S2/S8/S22-Dokumentation und CE/IEC-Bereitschaft
- Endprüfstationen, optimiert für analoge, Mixed-Signal- und digitale Hochgeschwindigkeitskomponenten
Avernas Halbleiter-Testgeräte
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EFEM-Wafer-Handling-PlattformHochsaubere automatisierte Wafer-Handling-Plattform mit FOUP/SMIF-Schnittstellenoptionen, präziser Wafer-Ausrichtung und nahtloser Roboterintegration.
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Uniline für gemischte Funktions- und EOL-TestsSkalierbare Station für elektrische, ICT-, Sicherheits- und Funktionstests mit vollständiger Automatisierung, ideal für ASIC-Module und PCBA-Baugruppen. |
Aktive Ausrichtung – Montage- und TestplattformErfahren Sie, wie unsere branchenweit etablierte Plattform die Produktion beschleunigen und die Produktqualität verbessern kann. Ideal für Hersteller, die wiederholbare Präzisionsmontagedienste in großem Maßstab suchen.
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Vision-InspektionssystemeOptische Systeme, die für die Erkennung von Defekten im Mikrometerbereich, die Bondinspektion, die Validierung von Lötpasten und die Klassifizierung von Endprodukten optimiert sind.
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Erfolgsstory
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