High-Speed-Konnektivität dargestellt in gesamter Smart City

Gestalten der
technologischen Zukunft

Halbleiter finden sich in praktisch allen elektronischen Systemen, von Smartphones und tragbaren Geräten über medizinische Geräte bis hin zu Flugzeugen. Sie haben die Arbeitsweise in Industrie und Geschäftswelt revolutioniert, da sie intelligentere, schnellere, kostengünstigere und kleinere Geräte ermöglichen.

Nahaufnahme von Platine und Halbleiterchip

Perfekte Produkte der nächsten Generation

Steigern Sie die Qualität von Halbleitern und MEMS und erfüllen Sie gleichzeitig die Anforderungen an Geschwindigkeit und Rückverfolgbarkeit. Unsere Teststationen helfen, einwandfreie Produkte der nächsten Generation schneller als der Wettbewerb zu liefern und dabei die Herstellungskosten zu senken.

Automatischer Tester mit Nagelbett

Einfach unverzichtbar:
automatische Tests

Bauen Sie bei der Charakterisierung und Validierung von Produkten auf die Expertise von Averna, um sachgerechte Tests sicherzustellen. Über die betriebsbereiten Test- und Messlösungen erhalten Sie Analysen zentraler Daten, schnelle Verarbeitung, höhere Leistung und maximale Rückverfolgbarkeit. 

Egal ob Smartphones, mobile Geräte, Automotive oder Flugzeuge – sprechen Sie mit unseren Test- und Qualitätsexperten über MEMS, Charakterisierung  von Produkten und Testlösungen zur Validierung.

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Zeichnung eines Halbleitersymbols

Bewährte automatische Testlösungen

Permanente Qualität und Zuverlässigkeit beim Skalieren ausgereifter Technologien

Weitere Infos zu unseren hochmodernen
Test- und Messlösungen für Halbleiter

Deckblatt der Erfolgsstory zu Machine Vision bei Platinenmontage

Erfolgsstory

Erfahren Sie, wie wir ein überaus präzises und 100% genaues Vision-System implementiert haben, das die Ergebnisse beim Platinendruck deutlich verbessert.

Deckblatt des Videos zu Expertise und Lösungen für Testtechnik

Video

Mit diesem Video verschaffen Sie sich einen Überblick über unser breites Spektrum an Fachwissen und Service im Bereich Testtechnik.

Deckblatt des Datenblatts zu verbesserten Verfahren durch automatische Tests

Datenblatt

Informieren Sie sich in unserem Datenblatt über typische Tests wie Funktions- und Belastungstests, Musterverifizierung,  Fehleranalyse und das sonstige Testspektrum.

High-Speed-Lösungen für Tests und Messungen

MEMS-Tests und Validierung (mit Stimulus) ▪ Voice/Ton ▪ Bewegung/Position ▪ Drucküberwachung ▪ Projizieren/Empfangen von Licht ▪ Inkjet-MEMS-Module ▪ Mikrofluidik und Bio-Chips ▪ Display-MEMS ▪ Autofokusaktoren ▪ Feuchtigkeitssensoren ▪ ASIC- und IC-Validierung ▪ Burn-In ▪  Validierung des Temperaturbereichs ▪ Magnetfeldtests ▪ Automatische Modulmontage.