Antworten auf die steigenden Anforderungen der schnelllebigen Halbleiterbranche
Moderne Geräte müssen innerhalb enger thermischer Grenzen, kleinerer Bauformen und schnellerer Zykluszeiten arbeiten und gleichzeitig die Anforderungen von Next-Gen-Anwendungen wie autonomem Fahren oder Edge AI erfüllen. Testsysteme können nicht mehr nur die Funktionalität bestätigen. Testsysteme dürfen nicht mehr nur die Funktionalität bestätigen. Sie müssen nahe an den Timing-Grenzen messen und mit Materialinnovationen wie SiC, GaN und MEMS Schritt halten.
Wo das Testen von Halbleitern immer komplexer wird
Die Halbleiterbranche benötigt Testumgebungen, die mehrere Bereiche abdecken. Elektrische und mechanische Handhabung, optische Inspektion und Protokollverifizierung greifen heute in einem einzigen Prozess ineinander. Herausforderungen entstehen durch:
- Bewahren der Submikron-Ausrichtung bei der Handhabung von Wafern bei gleichzeitiger Erhöhung des Durchsatzes
- Erfassen des transienten elektrischen oder optischen Verhaltens unter Umweltbelastung
- Generieren von Testabdeckung für MEMS, ASICs oder Multi-Chip-Module mit Stimulus-Simulation
- Erfüllen der SEMI S2/S8/S22-Anforderungen bei gleichzeitiger Optimierung der Reinraumkompatibilität
Diese Herausforderungen erfordern maßgeschneiderte Systeme und domänenspezifisches Fachwissen. Das können Sie nur durch die Zusammenarbeit mit einem Technikpartner erreichen, der die Sprache der modernen Fabriken spricht.
Technisches Fachwissen von Averna bei Halbleiteranwendungen
Averna liefert modulare und automatisierte Testsysteme, die auf die Halbleiterfertigung zugeschnitten sind. Unsere Plattformen unterstützen kritische Prozesse wie die Sortierung auf Waferebene, Gehäusetests, Burn-in, I-V- und C-V-Charakterisierung sowie die Funktionsvalidierung im System.
Wir entwickeln Testumgebungen, die reale Bedingungen simulieren. Sie ermöglichen nachvollziehbare und wiederholbare Tests für verschiedene Wafergrößen und Betriebsschwellen. Unabhängig davon, ob das Ziel eine schnellere Markteinführung oder eine fehlerfreie Integration ist, erfüllen unsere Systeme erfüllen die Anforderungen moderner Fertigungen und zuständiger Zertifizierungsstellen.
Diese Fähigkeiten sind entscheidend in Branchen wie der Automotive, Luft- und Raumfahrt, Verbraucherelektronik, Medizintechnik, Industrieautomation und Telekommunikation. In diesen Bereichen sind Chip-Zuverlässigkeit und Systemintegration unverzichtbar.
Kernkompetenzen
Unsere Lösungen sind auf technische Präzision und Reinraumtauglichkeit ausgelegt und addressieren eine Vielzahl von Herausforderungen in der Halbleiterbranche:
- Tests auf Wafer- und Die-Ebene mit integrierten Burn-in-Umgebungen und elektro-optischen Prüfgeräten
- MEMS-Charakterisierung, einschließlich Bewegung, Druck, Akustik, Licht, Feuchtigkeit und Magnetismus, mit Integration physikalischer Stimuli
- Generieren von Testabdeckung für MEMS, ASICs oder Multi-Chip-Module mit Stimulus-Simulation
- IC-, ASIC- und SoC-Vollzyklusverifizierung mit parametrischer Analyse bei Temperaturschwankungen
- Inline-Sichtprüfung (Vision Inspection) von PCBA-Lötstellen bis zu Mikro-Baugruppen-Qualitätstoren
- Risiko- und Normenvalidierung, einschließlich SEMI S2/S8/S22-Dokumentation und CE/IEC-Bereitschaft
- Endteststationen, optimiert für unterschiedliche Komponenten: analog, Mischsignal, High-Speed digital
Halbleiter-Testgeräte von Averna
|
|
|
|
EFEM-Plattform zur Wafer-HandhabungUltrasaubere Plattform zur automatisierten Wafer-Handhabung mit FOUP/SMIF-Schnittstellenoptionen, präziser Wafer-Ausrichtung und nahtloser Roboterintegration.
|
Uniline für gemischte Funktions- und EOL-TestsSkalierbare Station für verschiedene Tests (Elektrik, ICT, Sicherheit, Funktionalität) mit vollständiger Automatisierung, ideal für ASIC-Module und PCBA-Baugruppen. |
Aktive Ausrichtung – Montage- und TestplattformErfahren Sie, wie unsere branchenweit etablierte Plattform die Produktion beschleunigt und die Produktqualität verbessert. Ideal für Hersteller, die wiederholbare Präzisionsmontageservices in großem Maßstab brauchen.
|
SichtprüfungssystemeOptische Systeme, die für die Erkennung von Defekten im Mikrometerbereich, Bondinspektion, Validierung von Lötpasten und Klassifizierung von Endprodukten optimiert sind.
|
Mit Averna Ihre Halbleitertests beschleunigen!
Von Smartphones und Wearables bis hin zu Automobilen und Flugzeugen - sprechen Sie mit unseren Test- und Qualitätsexperten über unsere Testlösungen für MEMS, Produktcharakterisierung und Validierung.
Erfahren Sie mehr über unsere fortschrittlichen Test- und Messlösungen für Halbleiter
Erfolgsstory
Erfahren Sie, wie wir ein extrem präzises und 100 % genaues Bildverarbeitungssystem implementiert haben, das die PCB-Druckergebnisse drastisch verbessert hat.
Video
Sehen Sie sich dieses Video an und erfahren Sie mehr über unser breites Spektrum an Fachwissen und Dienstleistungen im Bereich Testtechnik.
Kontaktieren Sie noch heute unser Team für Halbleitertests!
Beschleunigen Sie Ihre Markteinführung mit unseren bewährten Lösungen für Halbleitertests. Kontaktieren Sie uns noch heute – wir sind nur eine Nachricht entfernt!









