IridiumPLTSテストカバレッジ

Averna Iridium PLTSは、インバンドおよびワイドバンドのオプションを用いて、以下のテストケースをサポートしています。* 以下の「サポートされているIridium量産テスト」もご参照ください。

テストケース	説明	帯域内	広帯域
BER	可変入力レベル（dBm）におけるBER（%）	✓	✓
BER 2% 感度	2%のBERとなるための入力レベル（dBm）を決定する	✓	✓
干渉時のBER	交差干渉および隣接干渉時のBER		✓
受信機のブロッキング	受信機のスプリアス除去およびブロッキング		✓
RSSI	入力レベルごとの被試験機（UUT）のRSSI値を返します（dBm）	✓	✓
FER	ダウンリンクへの同期に失敗したフレームに基づいて、FER（%）を算出します	✓	✓
変調精度（EVM）	0.5～10%の範囲におけるピークEVMおよびRMS EVMを測定します	✓	✓
送信電力	送信電力（dBm）	✓	✓
バースト立ち上がり時間	立ち上がり時間および立ち下がり時間の測定（単位：μs）	✓	✓
ACCP	指定された帯域幅（43.33 kHz）において、隣接チャネルおよび交互チャネルの隣接チャネル電力を測定します	✓	✓
狭帯域スペクトルマスク	目的のチャネルから1 MHz以内の範囲にあるイリジウムトランシーバーに対して、狭帯域スペクトルマスク測定を適用します	✓	✓
事前適合性評価用広帯域スプリアス放射	最大3 GHzまでの放射を測定し、適切な規制限界値を適用します		✓