電子機器試験ソリューション

アヴェルナのエレクトロニクス試験への取り組み

Avernaは、電子機器のテストをライフサイクルプログラムとして捉えています。各プロジェクトでは、テストの網羅性とスループットを製品に適合させ、導入後も長期にわたりシステムの保守性を維持できるよう、明確に定義されたエンジニアリングプロセスに従って進められます。

1. フェーズ01

   要件の定義とテストのための設計

   Avernaは、お客様のエンジニアリングチームと連携し、包括的な検証戦略を策定するとともに、各欠陥が発生しうる箇所を特定します。設計段階からテスト対応設計（DfT）のベストプラクティスを適用することで、テストへのアクセスやカバレッジを製品に組み込むことができ、後になって後付けで追加する必要がなくなります。
2. フェーズ02

   テストプラットフォームの選択または構築

   適切なアーキテクチャは、お客様の製品・製造の組み合わせやスループット目標によって異なります。Avernaでは、これらに合わせて計測機器や治具を組み立て、以下のような実績のある構成要素を再利用しています。 UniLine や、用途に適したその他のスケーラブルなテストプラットフォームなど、実績のある構成要素を再利用します。
3. フェーズ03

   完全なトレーサビリティを確保して実行する

   テストシーケンスは生産速度で自動的に実行されます。すべての結果が記録され、MESに連携される（またはプロジェクトの規模に応じてローカルに保存される）ため、ラインが稼働し続ける間も、各ユニットには検証可能な記録が保持されます。
4. フェーズ04

   分析と維持

   歩留まりや不良に関するデータは、設計やプロセスの意思決定に反映されます。また、Avernaは、計測機器や製品の部品が陳腐化に近づいた場合を含め、システムの耐用期間を通じてサポートを継続します。