Phạm vi kiểm thử hệ thống PLTS của Iridium

Phạm vi kiểm thử Iridium và các trường hợp kiểm thử được hỗ trợ

Hệ thống Averna Iridium PLTS hỗ trợ các trường hợp thử nghiệm sau đây với các tùy chọn trong dải tần và dải tần rộng.* Xem thêm phần " Các bài kiểm tra sản xuất Iridium được hỗ trợ " bên dưới.

Trường hợp kiểm thử	Mô tả	Trong dải tần	Dải rộng
BER	% BER ở mức đầu vào thay đổi (dBm)	✓	✓
Độ nhạy BER 2%	Xác định mức đầu vào (dBm) cần thiết để đạt BER 2%	✓	✓
BER khi có nhiễu	BER khi có nhiễu xen kẽ và nhiễu liền kề		✓
Chặn tín hiệu ở bộ thu	Khả năng loại bỏ nhiễu giả và chặn tín hiệu của bộ thu		✓
RSSI	Trả về giá trị RSSI của thiết bị thử nghiệm (UUT) theo từng mức đầu vào (dBm)	✓	✓
FER	Xác định % FER dựa trên các khung dữ liệu không đồng bộ hóa được với đường xuống	✓	✓
Độ chính xác điều chế (EVM)	Đo giá trị đỉnh và RMS của EVM trong khoảng từ 0,5% đến 10%	✓	✓
Công suất phát (Tx)	Công suất phát (Tx) tính bằng dBm	✓	✓
Thời gian tăng đột biến	Các phép đo thời gian tăng và thời gian giảm tính bằng uS	✓	✓
ACCP	Đo công suất kênh liền kề trong các kênh liền kề và xen kẽ trên băng thông quy định (43,33 kHz)	✓	✓
Mặt nạ phổ băng tần hẹp	Áp dụng các phép đo mặt nạ phổ băng tần hẹp cho các bộ thu phát Iridium trong phạm vi 1 MHz so với kênh mong muốn	✓	✓
Phát xạ giả dải rộng trước khi tuân thủ	Đo phát xạ lên đến 3 GHz và áp dụng các giới hạn quy định phù hợp		✓