• 智能制造连接测试系统、数据与自动化的智能制造解决方案,实现实时可视化与预测性洞察。
  • 原型开发与咨询早期可测试性设计(DFT)分析、灵活的原型开发及概念验证(PoC)。
  • 自动化测试解决方案(ATE)从台式到机柜级,提供高速验证、确认与测试。
  • 在线测试系统在传送线上连续进行自动化测试或检测,不中断生产节拍。
  • 精密装配与生产融合先进机器人、检测与过程控制的自动化装配解决方案,实现零缺陷制造。
  • 测试系统复制部署在全球多个站点部署完全一致的测试系统,并进行元器件停产管控。

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探索可扩展的质量解决方案,专为全球要求最严苛的高可靠性产品和自动化制造环境而打造。

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关于我们

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  • 公司概况Averna Powered by Spherea 是全球公认的测试与质量工程领导者,提供创新的端到端解决方案,加速产品上市并确保卓越性能。
  • 技术合作伙伴为向客户提供最佳的解决方案和集成服务,我们与全球顶尖的测试和技术公司建立了战略合作。
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  • 职业发展加入我们人才济济的团队,共同开创测试的未来。我们的员工成就了今天的我们,我们每天都以行动践行我们的价值观!

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我们由 1,800 名专家组成的团队,致力于在整个产品生命周期中提供工程创新、零缺陷质量架构和关键任务型自动化测试系统。

60+年测试经验
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功能与优势| 测试覆盖率

Iridium 测试覆盖范围及支持的测试用例

Averna Iridium PLTS 支持以下测试用例,并提供带内和宽带选项。* 另请参阅下文“支持的 Iridium 生产测试”。

测试用例 描述 带内 宽带
误码率(BER) 在可变输入电平(dBm)下的误码率(%) ✓ ✓
2% BER灵敏度 确定实现2% BER所需的输入电平(dBm) ✓ ✓
存在干扰时的误码率 存在交替干扰和相邻干扰时的误码率 ✓
接收机阻塞 接收机杂散抑制与阻塞 ✓
RSSI 按输入电平(dBm)返回被测单元(UUT)的RSSI ✓ ✓
FER 根据与下行链路同步失败的帧计算 FER 百分比 ✓ ✓
调制精度(EVM) 测量0.5%至10%范围内的峰值和均方根EVM ✓ ✓
发射功率 以 dBm 为单位的发射功率 ✓ ✓
脉冲上升时间 上升时间和下降时间的测量值(单位:微秒) ✓ ✓
ACCP 在指定带宽(43.33 kHz)内测量相邻通道及交替通道的功率 ✓ ✓
窄带频谱掩模 对目标频道1 MHz范围内的铱星收发机应用窄带频谱掩模测量 ✓ ✓
预合规宽带杂散发射 测量频率高达3 GHz的发射,并应用相应的法规限值 ✓

* 基于中心频率为 1621 MHz、带宽为 20 MHz、信道带宽为 41.6667 KHz,且在 90 mS 帧内具有 8.28 mS 发射突发时序的条件。

支持的铱星生产测试

我们的 9603/9603N 铱星量产测试系统支持以下功能:Averna's Iridium Physical Layer Test System for Production (PLTS)

  • 固件检查
  • 基带UART数字测试
  • 接收机校准
  • 接收机带宽测量
  • 接收机噪声底限测量
  • 误码率(BER)
  • 发射机电流
  • TX闭环射频功率调谐
  • TX ACCP
  • TX EVM
  • GPS直通
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Iridium Labs、产品设计师和设备制造商都采用我们的Iridium解决方案,以加快设计验证、验证设备性能,并让产品更快地推向市场。