挑战
在实战中,士兵的生命可能取决于电子或射频产品的设计和测试质量。该设备能否在极端温度下、遭受物理冲击后以及电量不足时正常工作?它会在哪些环节出现故障或失效?我们又该如何预防这些问题?
Averna的一位客户需要针对两款关键设备的顶层组件(TLA)和电路板组件(CCA)采取从零开始的测试方案,以确保这些设备不仅符合甚至超越规格要求,而且在实地使用中不会发生故障。
5
测试站的类型
12
各种可互换的智能灯具
180
测试用例
2200
每件被测单元的测试结果
解决方案
在项目初期,Averna 提供了咨询和分析方面的专业支持,包括可测试性设计(DFT)和可制造性设计(DFM),以优化产品设计并消除潜在的功能或装配缺陷。
与此同时,Averna 还参与了系统和网络架构、仪器选型及测试代码的协作,随后设计并建造了多套灵活的自动测试设备(ATE),用于功能测试、ICT测试、环境测试、装配测试和维修测试等。
这些自动测试设备(ATE)配备有多种夹具(包括自校准夹具),可根据不同产品进行更换。先进的测试数据管理系统会自动收集、集中处理并汇总测试结果,并将这些结果以数十种基于 Web 的制造报告和图表的形式呈现出来。




