Répondre aux exigences croissantes d'une industrie des semi-conducteurs en évolution rapide
Les appareils d'aujourd'hui doivent fonctionner dans des enveloppes thermiques plus étroites, des empreintes plus petites et des temps de cycle plus rapides, tout en restant alignés sur les exigences des applications de nouvelle génération, telles que l'autonomie automobile ou l'intelligence artificielle. Les systèmes de test ne peuvent plus se contenter de confirmer la fonctionnalité. Ils doivent mesurer près des limites de la synchronisation et suivre l'évolution des matériaux tels que le SiC, le GaN et les MEMS.
La complexité des essais de semi-conducteurs s'accroît
L'industrie des semi-conducteurs exige des environnements d'essai multi-domaines. La manipulation électrique et mécanique, l'inspection optique, la vérification des protocoles interagissent désormais au sein d'un même flux. Les défis à relever sont les suivants :
- Maintien de l'alignement submicronique dans la manipulation des wafers tout en augmentant la capacité de production
- Capture du comportement électrique ou optique transitoire sous contrainte environnementale
- Générer une couverture de test pour les MEMS, les ASIC ou les modules multi-puces avec la simulation de stimulus
- Répondre aux exigences SEMI S2/S8/S22 tout en optimisant la compatibilité avec les salles blanches
Ces défis requièrent des systèmes sur mesure et une expertise spécifique au domaine. Ce n'est qu'en s'associant à un partenaire d'ingénierie qui parle le langage des fabs modernes que l'on peut y parvenir.
L'expertise technique d'Averna dans le domaine des semi-conducteurs
Averna fournit des systèmes de test modulaires et automatisés adaptés à la production de semi-conducteurs. Nos plateformes prennent en charge des processus critiques tels que le triage au niveau des plaquettes, le test des boîtiers, le déverminage, la caractérisation I-V et C-V, ainsi que la validation fonctionnelle in-système.
Nous concevons des environnements de test capables de simuler les conditions du monde réel, ce qui permet de réaliser des tests traçables et reproductibles sur différentes tailles de plaquettes et différents seuils de fonctionnement. Que l'objectif soit d'accélérer la mise sur le marché ou de garantir une intégration sans faille, nos systèmes répondent aux exigences des usines modernes et des organismes de réglementation.
Ces capacités sont essentielles dans des secteurs tels que l'automobile, l'aérospatiale, l'électronique grand public, les appareils médicauxLes produits de cette catégorie sont utilisés dans les secteurs de l'aérospatiale, de l'électronique grand public, des appareils médicaux, de l'automatisation industrielle et des télécommunications, où la fiabilité des puces et l'intégration des systèmes ne sont pas négociables.
Principaux domaines d'expertise
Nos solutions sont adaptées à la précision technique et à la conformité aux salles blanches, et répondent à un large éventail de défis liés aux semi-conducteurs :
- Tests au niveau des plaquettes et des matrices, avec des environnements de déverminage intégrés et des outils d'inspection électro-optique
- Caractérisation des MEMS, y compris le mouvement, la pression, l'acoustique, la lumière, l'humidité et le magnétisme, avec intégration d'un stimulus physique
- Générer une couverture de test pour les MEMS, les ASIC ou les modules multi-puces avec la simulation de stimulus
- Vérification du cycle complet des circuits intégrés, des circuits intégrés autonomes et des systèmes de commande intégrés, avec analyse paramétrique des variations de température
- Inspection par vision en ligne, des joints de soudure des circuits imprimés aux portes de qualité des micro-assemblages portes de qualité des micro-assemblages
- Validation des risques et des normes, y compris la documentation SEMI S2/S8/S22 et la préparation CE/IEC
- Stations de test final, optimisées pour les composants analogiques, à signaux mixtes et numériques à grande vitesse
Équipement de test des semi-conducteurs d'Averna
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plateforme manipulation des wafers EFEMplateforme automatisée de manipulation de plaquettes ultra-propre avec options d'interface FOUP/SMIF, alignement précis des plaquettes et intégration robotique transparente.
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Uniline pour les tests fonctionnels mixtes et les tests EOLStation évolutive pour la couverture des tests électriques, TIC, de sécurité et fonctionnels avec une automatisation complète, idéale pour les modules ASIC et les assemblages PCBA. |
Plateforme d'assemblage et de test pour l'alignement actifDécouvrez comment notre plateforme établie dans l'industrie, peut accélérer la production et améliorer la qualité des produits. Idéale pour les fabricants qui recherchent des services d'assemblage de précision reproductibles à grande échelle.
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Systèmes d'inspection par visionSystèmes optiques optimisés pour la détection de défauts de l'ordre du micron, l'inspection des liaisons, la validation de la pâte à braser et la classification des produits finis.
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Travaillez avec Averna pour accélérer votre feuille de route pour les tests de semi-conducteurs
Des téléphones intelligents aux consommables en passant par l'automobile et l'aéronautique - parlez à nos experts en test et qualité de nos solutions de test MEMS, de caractérisation et de validation des produits.
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Succès client
Découvrez comment nous avons mis en place un système de vision extrêmement précis et 100% exact qui a considérablement amélioré les résultats de l'impression des circuits imprimés.
Vidéo
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