Halbleitermesstechnik und EFEM-Lösungen

Steigende Anforderungen einer sich rasch wandelnden Branche adressieren

Moderne Geräte müssen innerhalb enger thermischer Grenzen, kleinerer Bauformen und schnellerer Zykluszeiten arbeiten und gleichzeitig die Anforderungen von Next-Gen-Anwendungen wie autonomem Fahren oder Edge AI erfüllen. Testsysteme können nicht mehr nur die Funktionalität bestätigen. Testsysteme dürfen nicht mehr nur die Funktionalität bestätigen. Sie müssen nahe an den Timing-Grenzen messen und mit Materialinnovationen wie SiC, GaN und MEMS Schritt halten.

Wo das Testen von Halbleitern immer komplexer wird

Die Halbleiterbranche benötigt Testumgebungen, die mehrere Bereiche abdecken. Elektrische und mechanische Handhabung, optische Inspektion und Protokollverifizierung greifen heute in einem einzigen Prozess ineinander. Herausforderungen entstehen durch:

Bewahren der Submikron-Ausrichtung bei der Handhabung von Wafern bei gleichzeitiger Durchsatzsteigerung
Erfassen des transienten elektrischen oder optischen Verhaltens unter Umweltbelastung
Generieren von Testabdeckung für MEMS, ASICs oder Multi-Chip-Module mit Stimulus-Simulation
Erfüllen der SEMI S2/S8/S22-Anforderungen bei gleichzeitiger Optimierung der Reinraumkompatibilität

Diese Herausforderungen erfordern maßgeschneiderte Systeme und domänenspezifisches Fachwissen. Das können Sie nur durch die Zusammenarbeit mit einem Technikpartner erreichen, der die Sprache der modernen Fabriken spricht.

Technisches Fachwissen von Averna bei Halbleiteranwendungen

Averna liefert modulare und automatisierte Testsysteme, die auf die Halbleiterfertigung zugeschnitten sind. Unsere Plattformen unterstützen kritische Prozesse wie die Sortierung auf Waferebene, Gehäusetests, Burn-in, I-V- und C-V-Charakterisierung sowie die Funktionsvalidierung im System.

Wir entwickeln Testumgebungen, die reale Bedingungen simulieren. Sie ermöglichen nachvollziehbare und wiederholbare Tests für unterschiedliche Wafergrößen und Betriebsschwellen. Unabhängig davon, ob das Ziel eine schnellere Markteinführung oder eine fehlerfreie Integration ist, erfüllen unsere Systeme die Anforderungen moderner Fertigungen und zuständiger Zertifizierungsstellen.

Diese Kompetenz ist in Branchen wie Automotive, Luft- und Raumfahrt, Verbraucherelektronik, Medizintechnik, industrieller Automatisierung und Telekommunikation von entscheidender Bedeutung, in denen die Zuverlässigkeit der Chips und die Systemintegration unverzichtbar sind.

Kernkompetenzen

Tests auf Wafer- und Die-Ebene mit integrierten Burn-in-Umgebungen und elektro-optischen Prüfgeräten
MEMS-Charakterisierung, einschließlich Bewegung, Druck, Akustik, Licht, Feuchtigkeit und Magnetismus, mit Integration physikalischer Stimuli
Generieren von Testabdeckung für MEMS, ASICs oder Multi-Chip-Module mit Stimulus-Simulation
IC-, ASIC- und SoC-Vollzyklusverifizierung mit parametrischer Analyse bei Temperaturschwankungen
Inline-Sichtprüfung, von Lötstellen auf Leiterplatten bis hin zu Qualitätskontrollpunkten bei der Mikromontage
Risiko- und Normenvalidierung, einschließlich SEMI S2/S8/S22-Dokumentation und CE/IEC-Bereitschaft
Endteststationen, optimiert für unterschiedliche Komponenten: analog, Mischsignal, High-Speed digital
Wafer and die-level testing, with integrated burn-in environments and electro-optical inspection tools
MEMS characterization, including motion, pressure, acoustics, light, humidity, and magnetism, with physical stimulus integration
Generating test coverage for MEMS, ASICs, or multi-chip modules with stimulus simulation
IC, ASIC, and SoC full-cycle verification, with parametric analysis under temperature variation
Inline vision inspection, from PCBA solder joints to micro-assembly quality gates
Risk and standards validation, including SEMI S2/S8/S22 documentation and CE/IEC readiness
Final test stations, optimized for analog, mixed-signal, and high-speed digital components

EFEM-Plattform

Hochreine, automatisierte Plattform für die Waferhandhabung mit FOUP-/SMIF-Schnittstellenoptionen, präziser Waferausrichtung und nahtloser Roboterintegration.

Sehen Sie sich unsere Software an

UniLine – der universelle Inline-Tester für Leiterplattenbaugruppen

Uniline für gemischte Funktions- und EOL-Tests

Skalierbare Prüfstation für elektrische, ICT-, Sicherheits- und Funktionsprüfungen mit vollständiger Automatisierung, ideal für ASIC-Module und PCBA-Baugruppen.

Das System ansehen

neues, für die medizinische Untersuchung optimiertes System

Aktive Ausrichtung – Montage- und Testplattform

Erfahren Sie, wie unsere branchenweit etablierte Plattform die Produktion beschleunigen und die Produktqualität verbessern kann. Ideal für Hersteller, die wiederholbare, präzise Montagedienstleistungen in großem Maßstab benötigen.

Das System ansehen

averna-automatisiertes-Testsystem-300x300

Sichtprüfungssysteme

Optische Systeme, die für die Erkennung von Defekten im Mikrometerbereich, die Prüfung von Verbindungen, die Validierung von Lötpaste und die Klassifizierung von Endprodukten optimiert sind.

Erfahren Sie, was wir tun

Titelseite – Averna löst das Versatzproblem beim Leiterplattendruck

Um die Genauigkeit beim beidseitigen Bedrucken von Leiterplatten zu verbessern, hat Averna ein vision-basiertes Messsystem entwickelt, das Versätze zwischen Vorder- und Rückseite bereits in einer frühen Phase des Produktionsprozesses erkennt und korrigiert. Die Lösung kombiniert hochpräzise Optik mit Echtzeit-Datenanalyse, um Ausschuss zu reduzieren und die Druckqualität zu stabilisieren.

Doppelkamera-Architektur (feststehend + beweglich) zur präzisen Messung der beidseitigen Ausrichtung von Leiterplatten
Hochauflösendes optisches System mit kalibrierten Linsen, das eine konsistente und wiederholbare Messung unabhängig von der Platinendicke sicherstellt
Integrierte LabVIEW-Umgebung für Rückverfolgbarkeit, Fehleranalyse und frühzeitige Fehlererkennung

Durch diesen Ansatz erfolgt die Fehlererkennung in einer früheren Prozessphase. So werden die Ausbeute gesteigert und gleichzeitig Ausschuss sowie Ineffizienzen in der Produktion reduziert.

Bis zu 3 µm Genauigkeit (X/Y)

100 % Messgenauigkeit

Vollständige Fallstudie lesen Sprechen Sie mit einem Experten