Support
    • Smart ManufacturingSmart-Manufacturing-Lösungen, die Testsysteme, Daten und Automatisierung vernetzen – für Echtzeit-Transparenz und vorausschauende Erkenntnisse.
    • Prototypenbau & BeratungFrühzeitige Design-for-Testability-Analyse (DFT), flexibler Prototypenbau und Proof-of-Concept-Validierung.
    • Automatisierte Testlösungen (ATE)Verifizierung, Validierung und Prüfung mit hoher Taktrate – vom Tischaufbau bis zum Prüfschrank.
    • Inline-TestsystemeAutomatisierte Prüfung oder Inspektion direkt am Förderband – ohne Taktunterbrechung.
    • Präzisionsmontage & ProduktionAutomatisierte Montagelösungen mit modernster Robotik, Inspektion und Prozesskontrolle für eine Null-Fehler-Fertigung.
    • Replikation von TestsystemenWeltweiter Rollout identischer Testsysteme an mehreren Standorten – mit Obsoleszenzmanagement.

    Bringen Sie Ihre Qualität auf das nächste Level.

    Entdecken Sie skalierbare Qualitätslösungen, entwickelt für die anspruchsvollsten Hochzuverlässigkeitsprodukte und automatisierten Fertigungsumgebungen der Welt.

    Mit einem Experten sprechen
    Engineers manipulating an ATEC ATMOS test station

    Unsere flexiblen Testplattformen basieren auf bewährten Architekturen mit integriertem IP und ermöglichen maximale Wiederverwendbarkeit sowie eine schnellere Bereitstellung – von der Produktentwicklung über die Fertigung bis zum Support.

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    Ressourcen-Center
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    Broschüre – 4 Seiten ADAS-Fahrzeugtests im großen Maßstab
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    • KarriereWerden Sie Teil eines Teams voller außergewöhnlicher Talente und gestalten Sie die Zukunft des Testens mit. Unsere Mitarbeitenden machen uns zu dem, was wir sind – und das zeigen wir jeden Tag durch unsere Werte!

    Testen auf das nächste Level bringen

    Unser Team aus 1.800 Spezialisten setzt sich mit Leidenschaft für technische Innovation, Null-Fehler-Qualitätsarchitekturen und unternehmenskritische automatisierte Testsysteme ein – über den gesamten Produktlebenszyklus.

    60+Jahre Testerfahrung
    20.000+abgeschlossene Projekte
    Unternehmensprofil herunterladen

    Produktbeschreibung

    Die DNA-Serie ist ein leistungsstarker Analysator für Phasenrauschen und Frequenzstabilität, der für anspruchsvolle Forschungs- und Entwicklungsanwendungen konzipiert wurde. Seine einzigartige digitale Architektur ermöglicht extrem rauscharme Messungen ohne den Einsatz komplexer Phasenregelkreise. Dies sorgt für eine schnellere Einrichtung, geringere Messfehler und eine höhere Zuverlässigkeit.

    Das System unterstützt flexible Konfigurationen, wobei die Modelle Frequenzbereiche von 2 MHz bis 400 MHz abdecken. Es kann mit internen oder externen Referenzen betrieben werden und ermöglicht sogar Messungen zwischen Signalen unterschiedlicher Frequenzen, was eine unübertroffene Vielseitigkeit bietet.

    Produktbeschreibung

    • Vereinfachter Messaufbau, bei dem keine Phasenverriegelung erforderlich ist

    • Geringere Messfehler und höhere Genauigkeit

    • Schnellere Ergebnisse durch automatisierte Datenerfassung

    • Flexible Konfigurationen für eine Vielzahl von Testszenarien

    • Modulare Ausführungen mit Optionen für interne oder externe Referenzierung

    Wichtigste Merkmale

    • Hochpräzise SSB-Phasenrauschanalyse (dBc/Hz)
    • Genaue Erkennung und Charakterisierung von Störsignalen
    • Zuverlässige Messung unter den unterschiedlichsten Signalbedingungen

    • Umfassende Bewertung der Frequenzstabilität im Zeitverlauf
    • Unterstützt überlappende und Kreuzvarianz-Methoden
    • Ermöglicht detaillierte Einblicke in das langfristige Signalverhalten über einen Zeitraum von bis zu 106 Sekunden

    • Reduziert Messrauschen, um die tatsächliche Leistung des Prüfobjekts (DUT) zu ermitteln
    • Unterstützt Millionen von Mittelwertbildungen für extrem niedrige Rauschpegel
    • Verbessert die Genauigkeit für anspruchsvolle F&E-Anwendungen

    • Umfasst sowohl die Analyse von Rauschen in unmittelbarer Nähe als auch von Rauschen in großer Entfernung vom Träger
    • Flexible Konfiguration über mehrere Dekaden hinweg
    • Ideal für die Prüfung verschiedener Oszillatoren und Signalquellen

    • Messdaten in Standardformaten (z. B. CSV) exportieren
    • Ermöglicht die Weiterverarbeitung und die Erstellung benutzerdefinierter Berichte
    Technische Daten
    HF-Eingangsanschlüsse
    HF-Eingangsanschluss Typ-N-Buchse, 50 Ohm Nennwert
    HF-Eingangsfrequenzbereich 2 MHz bis 100 MHz (DNA 100) 2 MHz bis 400 MHz (DNA 400)
    RF-Eingangs-Messpegel

    -10 dBm bis +20 dBm

    Eingabe des Schadensgrades

    AC > +23 dBm, max. 0 V DC

    Unterstützte Standards Lorem ipsum dolor sit amet
    Leistung des Phasenrauschanalysators
    HF-Eingangsfrequenzbereich 2 MHz bis 100 MHz (DNA 100) 2 MHz bis 400 MHz (DNA 400
    Messparameter SSB-Rauschen (dBc/Hz), Störsignale (dBc), Allan-Varianz und überlappte Allan-Varianz, Hadamard-Varianz und überlappte Hadamard-Varianz. Chronogramm des fraktionalen Frequenzrauschens.
    Anzahl der Kurven 20 Messkurven zum SSB-Phasenrauschen und zur Frequenzstabilität.
    Anzahl der Marker 20
    Frequenzbereich der Frequenzverschiebung 1 mHz bis 1 MHz, typischerweise 10 MHz
    Genauigkeit des Phasenrauschens +/- 2 dB (+/- 1 dB typisch)
    SSb-Rauschempfindlichkeit Typisches Restphasenrauschen Die vollständigen Werte entnehmen Sie bitte der Tabelle
    15 mm bei einer Messung mit 10 MHz -137 dBc/Hz bei 1 Hz -190 dBc/Hz bei 1 MHz -121 dBc/Hz bei 1 Hz

    -194 dBc/Hz bei 10 MHz
    Erhöhte Empfindlichkeit Vollständig kontinuierliches Kreuzkorrelationsverfahren bis zu Millionen von Mittelwerten
    Frequenzreferenz L-Version: externe Quellen (einzeln oder doppelt) F-Version: interne oder externe Quellen (einzeln oder doppelt)
    Allan-Restabweichung (5 MHz bis 400 MHz) < 7E-14 (5 Hz ENBW) < 5E-16 (5 Hz ENBW)
    Möglichkeit von bis zu 1.000.000 (Die Kreuzvarianz könnte sich in der Regel um den Faktor 10 verbessern)
    Restpegel der Störantwort (Messmodul), ohne durch Wechselstrom verursachte Störsignale -50 dBc bei 1 Hz Offset -70 dBc bei 10 Hz Offset -90 dBc bei 100 Hz Offset <-110 dBc bei über 1 kHz Offset
    Algorithmus zur Erkennung von Fehlalarmen Anpassbare Spitzenwert-Erkennung auf der Grundlage statistischer Rauschinformationen
    Messdauer siehe Fahrplan
    Auflösungsbandbreite Variable Einstellungen in jedem unabhängigen Dekadenbereich auf der Grundlage von 1024 FFTs in einer kaskadierten Kette zur kontinuierlichen Rauschdekadierung
    Ausgangsleistung der internen Quelle (nur F-Version) +10 dBm ± 3 dB

    Kontakt

    Kontaktieren Sie uns, um zu erfahren, wie die DNA-Serie Ihre Messmöglichkeiten erweitern und Ihre anspruchsvollsten F&E-Anwendungen unterstützen kann.